仪器详情

  • 扫描电镜（SEM-EDX）
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  • 制造厂商： FEI-BRUKER
  • 购置日期：2000-01-01
  • 型号：Q45-XFlash 6-30
  • 生产国别：
上海微谱检测科技集团股份有限公司
进机构
  • 功能/应用范围： 材料形貌观察分析和成分分析，纳米材料
  • 主要附件： 无
  • 主要技术指标： 放大倍率最大值：20000倍 图像线性失真度：＜5%
  • 技术特色： 材料形貌观察分析和成分分析，纳米材料

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