- 功能/应用范围： 近-中远红外（700 nm ？C 20000 nm）透射/吸收谱；近中红外(700 nm ？C 14000 nm)稳瞬态发射谱。 半导体材料光谱表征；低维量子结构光谱测试。 科学研究。
- 主要附件： 无
- 主要技术指标： 光谱范围： 8000 ？C 30 cm-1 （波数）； 分辨率：优于0.06 cm-1；波数精度：优于0.01cm-1； 透光率精度：优于0.1%T；信噪比：高于55000:1 （峰-峰值，DTGS+4 cm-1+2200~2100 cm-1+60 second）
- 技术特色： Step-scan mode （步进扫描模式）；Time-resolved （时间分辨组件）。