- 功能/应用范围： 光学薄膜材料、半导体材料
- 主要附件： 光谱仪主机、低温测量、红外显微镜、绝对反射率测量
- 主要技术指标： 光谱测量范围：7800 ~ 230 cm-1(1.5 ~ 50µm)； 光谱仪分辨率: 优于0.16 cm-1; 微区测量: 定位精度0.1µm，可测6.6 µm大小样品透射谱； 全自动样品台：自动调整光阑，自动聚焦，可微区全自动测量； 辐射测量: 可测常温红外到400度变温发射率； 低温测量温度: 10K到室温，±0.2K可控。
- 技术特色： VERTEX 70是Bruker公司集30年的红外光谱仪的制造经验，于2004年推出的全数字化红外光谱仪，该仪器采用多项先进技术，使得Bruker公司的红外光谱仪性能更优异，使用更方便。 该仪器采用的新技术有： 1. RockSolid干涉仪，Bruker的专利技术； 2. DigiTect技术，检测器为数字检测器，Bruker的专利技术； 3. BRAIN技术，Bruker的人工智能网络技术，随时反馈仪器的状态； 4. AAR技术，附件的自动识别技术； 5. ACR技术，光学组件的自动识别，